我們(men)常看到的(de)一些3C產品(pin)，里面都(dou)有安(an)裝鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)，鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)具有高能量密度、高電(dian)壓、壽命長、無(wu)記憶效應(ying)等優(you)點，是21世紀發展(zhan)的(de)理想電(dian)源(yuan)。鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)可(ke)廣泛應(ying)用于(yu) 3C 也被稱為(wei)手機、平板電(dian)腦(nao)、筆記本電(dian)腦(nao)、可(ke)穿(chuan)戴設備等領域3C鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)3C鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)容易因短路(lu)、過充等原因燒(shao)毀或(huo)爆炸，所以(yi)很(hen)危險3C鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)測試是鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)制造和(he)組(zu)裝的(de)重(zhong)要(yao)環節(jie)，是實現鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)性(xing)能和(he)安(an)全靠譜(pu)使用的(de)有力保障，3C鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)測試項目主要(yao)包(bao)括一致性(xing)、功能性(xing)、安(an)全性(xing)、靠譜(pu)性(xing)和(he)工(gong)況模擬。

　　3C鋰(li)電(dian)池測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)對(dui)電(dian)池測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)模(mo)塊(kuai)(kuai)的(de)選擇很(hen)重要。目前(qian)市場上廣泛使用的(de)電(dian)池測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)模(mo)塊(kuai)(kuai)有(you)兩種，一(yi)種是凱智通大電(dian)流彈片微針模(mo)塊(kuai)(kuai)，另(ling)一(yi)種是pogo pin探針模(mo)塊(kuai)(kuai)。通過比(bi)較兩者的(de)優缺點，我們可以更直觀地區(qu)分哪一(yi)個更符合要求(qiu)3C鋰(li)電(dian)池測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)要求(qiu)。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，中文字幕一區日韓精品:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論(lun)面(mian)對(dui)小間距(ju)還(huan)是(shi)大電(dian)(dian)(dian)流(liu)，大電(dian)(dian)(dian)流(liu)彈(dan)(dan)片(pian)微針模(mo)(mo)塊都有很(hen)好的應對(dui)方法。pitch在該領域，大電(dian)(dian)(dian)流(liu)彈(dan)(dan)片(pian)微針模(mo)(mo)塊是(shi)可(ke)(ke)取的pitch值在0.15mm-0.4mm性能穩定靠譜。面(mian)對(dui)大電(dian)(dian)(dian)流(liu)測試(shi)要求，大電(dian)(dian)(dian)流(liu)彈(dan)(dan)片(pian)微針模(mo)(mo)塊可(ke)(ke)通(tong)過的額定電(dian)(dian)(dian)流(liu)大到(dao)50A，在1-50A電(dian)(dian)(dian)阻恒定，幾乎沒有電(dian)(dian)(dian)流(liu)衰減，具有良好的連(lian)接功(gong)能，可(ke)(ke)以(yi)很(hen)大限(xian)度地保障3C鋰電(dian)(dian)(dian)池測試(shi)的穩定性。

　　就(jiu)使用壽(shou)(shou)命(ming)而言，pogopin探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)的(de)(de)試驗壽(shou)(shou)命(ming)在于5w大電流(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)的(de)(de)試驗壽(shou)(shou)命(ming)約(yue)為20w以上，比較pogopin探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)整(zheng)整(zheng)多了四(si)倍！pogopin探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)為多組件結構，生(sheng)產工藝復雜(za)，生(sheng)產難(nan)度高(gao)(gao)，交貨周(zhou)期長；大型電流(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)為一體(ti)化彈(dan)片結構，輕、扁平(ping)，可根據(ju)客戶要求定制，生(sheng)產難(nan)度低，交貨周(zhou)期短。相比之下，大型電流(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)的(de)(de)成本(ben)性能并不(bu)太(tai)高(gao)(gao)！

　　對比母(mu)(mu)座(zuo)(zuo)測試良(liang)率，pogopin探針模(mo)組針對BTB連(lian)(lian)接(jie)(jie)器母(mu)(mu)座(zuo)(zuo)幾乎(hu)無法(fa)(fa)實現，穩(wen)定(ding)(ding)(ding)性極(ji)差(cha)。大部分采(cai)用觸摸方案對應，母(mu)(mu)座(zuo)(zuo)測試良(liang)率不到80%；母(mu)(mu)座(zuo)(zuo)上有一(yi)種(zhong)特別的(de)(de)大電流彈(dan)片微針模(mo)塊對應方法(fa)(fa)。將斜(xie)口型（也稱尖頭(tou)型）彈(dan)片頭(tou)插(cha)入連(lian)(lian)接(jie)(jie)器內(nei)端(duan)(duan)子(zi)，以(yi)保(bao)持一(yi)定(ding)(ding)(ding)的(de)(de)開度(du)，從而保(bao)障彈(dan)片的(de)(de)接(jie)(jie)觸面(mian)和接(jie)(jie)觸面(mian)BTB連(lian)(lian)接(jie)(jie)器端(duan)(duan)子(zi)兩(liang)側保(bao)持接(jie)(jie)觸狀態，使測試穩(wen)定(ding)(ding)(ding)，母(mu)(mu)座(zuo)(zuo)測試良(liang)率高(gao)達(da)99.8%。

　
　大(da)電流彈片微針(zhen)模(mo)塊測(ce)(ce)試效率高，穩定性好。與同(tong)一產(chan)品測(ce)(ce)試前后相(xiang)比，連接器(qi)基(ji)本上看不到(dao)刺痕(hen)，不會對產(chan)品造成任何損壞pogopin探針(zhen)電池(chi)測(ce)(ce)試模(mo)塊更值得選擇和信賴。