關(guan)于(yu)BTB/FPC母座connector測試(shi)，目前大部份(fen)的企業(ye)、廠商(shang)采用(yong)輕觸(chu)(chu)計劃(hua)降臨時(shi)應對(dui)；運(yun)用(yong)pogo pin的廠商(shang)測試(shi)母座時(shi)，只能接觸(chu)(chu)連接器端子頂點(dian)(dian)位置，接觸(chu)(chu)區(qu)域面積小，接觸(chu)(chu)方(fang)式為點(dian)(dian)對(dui)點(dian)(dian)，相對(dui)彈片接觸(chu)(chu)面小，易(yi)磨損及運(yun)用(yong)次數到一定的壽命(ming)后易(yi)接觸(chu)(chu)不良，招致誤測等現象。

　　pogopin是由彈簧、針管、針軸三個(ge)根本部件預壓之(zhi)后構成的(de)(de)彈簧式探(tan)針；它自身(shen)由幾個(ge)部件制造、裝配、涂(tu)裝而成，工藝程(cheng)序復雜，但運用壽(shou)命仍然不高；由于pogopin自身(shen)存在的(de)(de)一些(xie)問題，在實踐操作針對BTB母座(zuo)connector測試(shi)時，我們理解到一些(xie)廠商的(de)(de)實踐狀況：

　　1.測試不穩定，pogopin自身(shen)是多配件構造，接(jie)觸(chu)點多，易(yi)產生接(jie)觸(chu)不穩定、阻抗(kang)分歧性低等(deng)問題；

　　2.測試(shi)時探針經(jing)常性扎歪，然后需求人(ren)員重新(xin)進行探針調整，糜費了大(da)量的時間和人(ren)工本(ben)錢；

　　3.卡PIN：同樣由于(yu)由多構造組合(he)而成，這個(ge)在pogopin身上是防止不了的問題；

　　4.極易(yi)斷針：隨(sui)著pitch的(de)減少(shao)，pogo的(de)針徑也越來越小，使(shi)得探針的(de)斷針風險(xian)逐步增加；

　　5.運(yun)用壽(shou)命(ming)很(hen)短：探針的運(yun)用壽(shou)命(ming)均在30000次以下，并容易(yi)磨損，運(yun)用次數到一定(ding)的壽(shou)命(ming)后易(yi)招致接觸不良、誤測等現象；

　　以(yi)上(shang)(shang)狀(zhuang)況(kuang)相對呈現率較(jiao)高，針(zhen)對以(yi)上(shang)(shang)的(de)狀(zhuang)況(kuang)，自然導致企業本錢(qian)的(de)增加，測試(shi)穩定性差，良品率低等問(wen)題。

　　針(zhen)對以上運用pogo測試(shi)BTB母座connector，下面(mian)簡單(dan)引見幾個方面(mian)：

　　1.彈片微針模組(zu)有一(yi)體成型，后期加硬鍍金處置，接觸外形(xing)（可定(ding)制化(hua)）很(hen)容(rong)易(yi)依照客戶(hu)請求制造(zao)；彈片為一(yi)體化(hua)構造(zao)，減(jian)少了接觸點(dian)，防止產生接觸不(bu)穩(wen)定(ding)、阻抗分歧(qi)性低(di)等問(wen)題；

　　2.在測(ce)試(shi)母座(zuo)(zuo)時(shi)，彈片(pian)頭部插入(ru)連接(jie)(jie)(jie)器內端子(zi)，使其(qi)產生一定的張開量，這樣能夠保障(zhang)彈片(pian)接(jie)(jie)(jie)觸(chu)面(mian)與BTB連接(jie)(jie)(jie)器端子(zi)兩(liang)面(mian)不斷堅持接(jie)(jie)(jie)觸(chu)狀態；測(ce)試(shi)公(gong)座(zuo)(zuo)時(shi)，鋸齒型彈片(pian)大面(mian)積充沛(pei)和連接(jie)(jie)(jie)器接(jie)(jie)(jie)觸(chu)點(dian)接(jie)(jie)(jie)觸(chu)，保障(zhang)測(ce)試(shi)穩定；

　　3.電傳播(bo)導于同一(yi)資(zi)料體內，電阻恒(heng)定，簡(jian)直(zhi)沒有電流(liu)衰減，具有更好的銜接功(gong)用，額定電流(liu)為(wei)3A；

　　4.由于一體成(cheng)型，完(wan)整不會呈(cheng)現卡pin現象(xiang)，并且運用壽命能到(dao)達30萬次以上；

　　5.測試母座時，定制的斜口(kou)性(xing)彈(dan)片(pian)(pian)的頭部插入BTB連(lian)接(jie)器內彈(dan)片(pian)(pian)啟齒之間，對BTB連(lian)接(jie)器彈(dan)片(pian)(pian)產(chan)生一定的張開量，微(wei)針模(mo)組彈(dan)片(pian)(pian)接(jie)觸(chu)面與BTB連(lian)接(jie)器彈(dan)片(pian)(pian)兩面不斷(duan)堅持接(jie)觸(chu)狀態(tai)，微(wei)針模(mo)組彈(dan)片(pian)(pian)頭型自清潔設計(ji)免(mian)維護保(bao)障長(chang)期(qi)穩定性(xing)；

　　6.一體式(shi)設計，準確度高，完整不會呈現扎歪的問(wen)題(ti)；

　　7.大電(dian)流BTB彈片微針(zhen)模(mo)組的測試良率能到達(da)99.5%；

　　8.能更好的應對pitch≤0.2mm的范疇；

　　9.運用彈片微針模(mo)組（blade block）在同一(yi)模(mo)組，測(ce)(ce)試(shi)前和測(ce)(ce)試(shi)20次后，連(lian)接器上根本(ben)看不到任何扎痕；

　　針(zhen)對市(shi)場上，企業運用pogopin一系列的(de)(de)問題，我們自主(zhu)創新的(de)(de)大電流BTB彈片微針(zhen)模組（blade block）的(de)(de)處理(li)計(ji)劃能更好的(de)(de)應對，協助(zhu)企業儉省本錢。

　　相(xiang)較于(yu)目前(qian)市場上(shang)的痛(tong)點，大(da)電流彈片微(wei)針模組(zu)（blade block），一體成型(xing)的彈片根卡pin、銜接(jie)穩(wen)定性(xing)差、斷針，接(jie)觸(chu)外(wai)形可(ke)定制化防止了產生(sheng)接(jie)觸(chu)不穩(wen)定、阻抗分(fen)歧性(xing)低(di)，能(neng)應對(dui)pitch≤0.2mm、測試(shi)效(xiao)率高、穩(wen)定性(xing)高、能(neng)兼容小pitch BTB公母座穩(wen)定且牢(lao)靠、能(neng)接(jie)受的頂點為50A大(da)電流、運用壽命更長、快(kuai)速出樣、訂貨周期短等優點。