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板對板連接器測試中,也可以用到pogopin探針模組

文章來源:勤誠科技 / 作者:勤誠科技 / 發表時間:2023-06-15
板對板連接器在手機、平板電腦和筆記本電腦的連接電路中起著重要作用,是3C產品中不可或缺的組件。作為電流傳輸能力快的連接器,板對板連接器在功耗、安裝、插拔、散熱等方面也具有優異的性能。現在的3C數碼產品越來越薄,板對板連接器也朝著更小的趨勢發展。然而,在操作過程中,板對板連接可能會出現故障,例如接觸不良、電纜斷開或電導率降低,這與板對板連接器的質量有關。通常,板對板連接器需要在制造后進行測試,在測試中可以用到:彈片微針模組、中文字幕一區日韓精品:pogopin探針模組。


雙排8pin連接器 (3).jpg

  在(zai)板(ban)對(dui)板(ban)連(lian)接(jie)器的(de)(de)測試(shi)中,需(xu)要連(lian)接(jie)模塊,例如彈(dan)片微針(zhen)模組,作為電(dian)(dian)流(liu)傳(chuan)(chuan)導(dao)和信號連(lian)接(jie)的(de)(de)橋梁(liang)。在(zai)大(da)電(dian)(dian)流(liu)測試(shi)中,彈(dan)片微針(zhen)模組可在(zai)1-50a范圍(wei)內傳(chuan)(chuan)輸(shu)電(dian)(dian)流(liu),電(dian)(dian)流(liu)穩(wen)定,連(lian)接(jie)功能良好(hao)。面(mian)對(dui)板(ban)對(dui)板(ban)連(lian)接(jie)器的(de)(de)小(xiao)間距問(wen)題,pogopin探針(zhen)模組容(rong)易卡(ka)死和斷針(zhen),無法適應小(xiao)間距領域的(de)(de)測試(shi)。彈(dan)片微針(zhen)模組是集成的(de)(de)薄(bo)片結構,在(zai)小(xiao)間距領域具(ju)有自然優勢(shi)。它(ta)不僅(jin)具(ju)有良好(hao)的(de)(de)導(dao)電(dian)(dian)性,而(er)且保(bao)持穩(wen)定的(de)(de)連(lian)接(jie),這有助于提高板(ban)對(dui)板(ban)連(lian)接(jie)器的(de)(de)測試(shi)效率。


  在板對板連接器測試中應注意以下幾點:


  1、板對(dui)板連接器工(gong)作(zuo)時,電流會在接觸點(dian)產生熱量(liang),導(dao)致溫升。因此(ci),板對(dui)板連接器的工(gong)作(zuo)溫度應(ying)等于環境溫度和觸點(dian)溫升之和.


  2、板(ban)對板(ban)連接器(qi)的(de)絕緣性能會(hui)受到濕氣和濕氣侵入的(de)影(ying)響,金屬部件也(ye)會(hui)生銹。因此,有(you)必要規(gui)定(ding)相對濕度為90%~95%,溫度為+40±20℃.


  3、板(ban)(ban)對板(ban)(ban)連接器在(zai)含(han)鹽霧的環境中工作時,接觸面(mian)和金屬結構件可能發(fa)生(sheng)電(dian)(dian)化學腐蝕,影響板(ban)(ban)對板(ban)(ban)連接器的電(dian)(dian)氣性能,不能直接使用。


4pin貼片連接器 (3).jpg

  板(ban)(ban)對(dui)板(ban)(ban)連(lian)接(jie)(jie)(jie)(jie)器(qi)(qi)與(yu)公(gong)、母座(zuo)(zuo)配合(he)使(shi)用(yong),封堵力(li)是重要的(de)(de)(de)力(li)學性(xing)能(neng)。因此,試驗中還要求(qiu)公(gong)、母座(zuo)(zuo)椅(yi)的(de)(de)(de)連(lian)接(jie)(jie)(jie)(jie)和電流傳輸穩定(ding)。彈(dan)片微(wei)針(zhen)模組(zu)的(de)(de)(de)另一個(ge)優點是,它(ta)可(ke)以使(shi)用(yong)不(bu)同(tong)的(de)(de)(de)頭類型來測試板(ban)(ban)對(dui)板(ban)(ban)連(lian)接(jie)(jie)(jie)(jie)器(qi)(qi)的(de)(de)(de)公(gong)座(zuo)(zuo)和母座(zuo)(zuo)。具體(ti)地說,鋸齒彈(dan)片接(jie)(jie)(jie)(jie)觸(chu)板(ban)(ban)用(yong)于(yu)接(jie)(jie)(jie)(jie)觸(chu)板(ban)(ban)連(lian)接(jie)(jie)(jie)(jie)器(qi)(qi)的(de)(de)(de)公(gong)座(zuo)(zuo),公(gong)座(zuo)(zuo)頂(ding)部的(de)(de)(de)彈(dan)片多(duo)點接(jie)(jie)(jie)(jie)觸(chu)以保持接(jie)(jie)(jie)(jie)觸(chu)的(de)(de)(de)穩定(ding)性(xing);使(shi)用(yong)尖頭彈(dan)簧片與(yu)板(ban)(ban)對(dui)板(ban)(ban)連(lian)接(jie)(jie)(jie)(jie)器(qi)(qi)母座(zuo)(zuo)的(de)(de)(de)兩側保持接(jie)(jie)(jie)(jie)觸(chu),以保持連(lian)接(jie)(jie)(jie)(jie)長期(qi)穩定(ding)。


  在板(ban)(ban)(ban)對(dui)板(ban)(ban)(ban)連(lian)接(jie)(jie)(jie)器(qi)(qi)的(de)測試中,無需擔心彈(dan)片微(wei)針模組對(dui)連(lian)接(jie)(jie)(jie)器(qi)(qi)造成的(de)損壞。將相同的(de)彈(dan)片微(wei)針模組放(fang)在板(ban)(ban)(ban)對(dui)板(ban)(ban)(ban)連(lian)接(jie)(jie)(jie)器(qi)(qi)上,并在500倍顯微(wei)鏡下比較測試前后20次。可(ke)以(yi)看(kan)出,連(lian)接(jie)(jie)(jie)器(qi)(qi)基本上沒有刺傷。可(ke)以(yi)證明,彈(dan)片微(wei)針模組是性能穩(wen)定、使用安全的(de)高(gao)效連(lian)接(jie)(jie)(jie)模塊。


  板對(dui)板連接(jie)器(qi)測(ce)試可(ke)以消(xiao)除故(gu)障(zhang)產(chan)品,確保(bao)質(zhi)量和數(shu)量。應用(yong)于板對(dui)板連接(jie)器(qi)的彈片微針(zhen)模組的平(ping)均使用(yong)壽命超過20W倍。它可(ke)以自(zi)由應對(dui)高頻測(ce)試。其彈片頭采用(yong)自(zi)清(qing)潔設計,可(ke)避免雜質(zhi)干擾,無(wu)需像pogopin探(tan)針(zhen)模組那(nei)樣(yang)頻繁更換(huan)。對(dui)于板對(dui)板連接(jie)器(qi)測(ce)試,可(ke)以大(da)限度地提高測(ce)試效率,完成測(ce)試過程。

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