我(wo)們常(chang)看到的(de)一(yi)(yi)些3C產(chan)品(pin)，里(li)面都有安裝鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)，鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)具有高能(neng)量(liang)密度、高電(dian)壓、壽命長、無記憶效應等(deng)(deng)優點，是21世紀(ji)發展的(de)理想電(dian)源(yuan)。鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)可廣泛應用(yong)(yong)于 3C 也被稱為手機、平板電(dian)腦(nao)、筆記本電(dian)腦(nao)、可穿(chuan)戴(dai)設備等(deng)(deng)領域(yu)3C鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)3C鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)容易因(yin)短(duan)路、過充等(deng)(deng)原(yuan)因(yin)燒毀(hui)或爆炸，所以很(hen)危險3C鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)測試是鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)制造和組(zu)裝的(de)重(zhong)要(yao)環節，是實(shi)現鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)性(xing)能(neng)和安全靠譜使用(yong)(yong)的(de)有力保障，3C鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)測試項目主(zhu)要(yao)包括一(yi)(yi)致性(xing)、功能(neng)性(xing)、安全性(xing)、靠譜性(xing)和工況模擬(ni)。

　　3C鋰(li)電池(chi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)對電池(chi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)模(mo)(mo)塊的選(xuan)擇很重要(yao)。目前市場上廣泛使(shi)用的電池(chi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)模(mo)(mo)塊有(you)兩種(zhong)，一種(zhong)是(shi)凱智通大電流彈(dan)片微針模(mo)(mo)塊，另一種(zhong)是(shi)pogo pin探針模(mo)(mo)塊。通過(guo)比較(jiao)兩者的優缺(que)點，我們(men)可(ke)以(yi)更直觀地區(qu)分哪一個更符合(he)要(yao)求(qiu)3C鋰(li)電池(chi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)要(yao)求(qiu)。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，中文字幕一區日韓精品:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論面(mian)對(dui)小間距還是大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)，大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)彈(dan)片微(wei)針模塊都有很(hen)好的(de)(de)應對(dui)方(fang)法。pitch在該領域，大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)彈(dan)片微(wei)針模塊是可取(qu)的(de)(de)pitch值在0.15mm-0.4mm性能穩(wen)定(ding)靠譜(pu)。面(mian)對(dui)大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)測(ce)試要求，大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)彈(dan)片微(wei)針模塊可通過的(de)(de)額定(ding)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)大(da)(da)到50A，在1-50A電(dian)(dian)(dian)(dian)阻恒定(ding)，幾乎沒有電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)衰(shuai)減，具有良好的(de)(de)連接功能，可以很(hen)大(da)(da)限(xian)度(du)地保(bao)障3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池測(ce)試的(de)(de)穩(wen)定(ding)性。

　　就使用壽命而言，pogopin探針(zhen)模塊(kuai)的試驗壽命在于(yu)5w大電流(liu)彈(dan)片(pian)(pian)微針(zhen)模塊(kuai)的試驗壽命約為(wei)(wei)(wei)20w以上，比較(jiao)pogopin探針(zhen)模塊(kuai)整(zheng)整(zheng)多了(le)四倍！pogopin探針(zhen)模塊(kuai)為(wei)(wei)(wei)多組件結(jie)構(gou)，生(sheng)產工藝復(fu)雜，生(sheng)產難度(du)高，交(jiao)(jiao)貨周(zhou)期長；大型電流(liu)彈(dan)片(pian)(pian)微針(zhen)模塊(kuai)為(wei)(wei)(wei)一體化彈(dan)片(pian)(pian)結(jie)構(gou)，輕、扁平，可(ke)根據客戶要求定制，生(sheng)產難度(du)低，交(jiao)(jiao)貨周(zhou)期短(duan)。相比之下，大型電流(liu)彈(dan)片(pian)(pian)微針(zhen)模塊(kuai)的成本性能(neng)并不太高！

　　對(dui)(dui)比(bi)母(mu)(mu)座測(ce)試(shi)(shi)(shi)良(liang)(liang)率(lv)(lv)，pogopin探針模組(zu)針對(dui)(dui)BTB連接(jie)(jie)器母(mu)(mu)座幾乎無法實現(xian)，穩定(ding)(ding)性(xing)極差。大(da)部分采用觸摸方案對(dui)(dui)應，母(mu)(mu)座測(ce)試(shi)(shi)(shi)良(liang)(liang)率(lv)(lv)不到80%；母(mu)(mu)座上有一種特別的(de)大(da)電(dian)流(liu)彈(dan)片微針模塊對(dui)(dui)應方法。將斜(xie)口型（也(ye)稱(cheng)尖頭型）彈(dan)片頭插入(ru)連接(jie)(jie)器內(nei)端(duan)子，以保持一定(ding)(ding)的(de)開度，從而保障彈(dan)片的(de)接(jie)(jie)觸面和接(jie)(jie)觸面BTB連接(jie)(jie)器端(duan)子兩側保持接(jie)(jie)觸狀態，使測(ce)試(shi)(shi)(shi)穩定(ding)(ding)，母(mu)(mu)座測(ce)試(shi)(shi)(shi)良(liang)(liang)率(lv)(lv)高達99.8%。

　
　大(da)電流彈片微針(zhen)模塊測試(shi)效(xiao)率高，穩定性好。與(yu)同一產品測試(shi)前后相比，連接器基本上看不到刺痕，不會對產品造成(cheng)任何損壞pogopin探針(zhen)電池測試(shi)模塊更(geng)值得選擇(ze)和信賴。