關于BTB/FPC母(mu)座connector測(ce)試(shi)，目前(qian)大部(bu)份(fen)的(de)(de)企業(ye)、廠(chang)商(shang)采用(yong)(yong)輕觸(chu)計劃降臨時應對；運用(yong)(yong)pogo pin的(de)(de)廠(chang)商(shang)測(ce)試(shi)母(mu)座時，只(zhi)能接觸(chu)連接器端子頂點(dian)位置，接觸(chu)區域(yu)面積小，接觸(chu)方式為點(dian)對點(dian)，相(xiang)對彈片接觸(chu)面小，易磨損及運用(yong)(yong)次數到一定的(de)(de)壽命后易接觸(chu)不良，招致誤測(ce)等現象。

　　pogopin是由彈簧、針(zhen)管、針(zhen)軸三個(ge)根本部(bu)(bu)件預(yu)壓(ya)之后構成(cheng)的彈簧式探針(zhen)；它自身由幾個(ge)部(bu)(bu)件制(zhi)造、裝配、涂裝而成(cheng)，工藝程序復(fu)雜，但運用壽(shou)命仍然不高(gao)；由于pogopin自身存在的一些問題，在實踐(jian)操作針(zhen)對(dui)BTB母座connector測試(shi)時，我們(men)理解到一些廠商的實踐(jian)狀況：

　　1.測試(shi)不穩定，pogopin自身是多配件構造，接觸(chu)點多，易產生(sheng)接觸(chu)不穩定、阻(zu)抗分歧性低等(deng)問題；

　　2.測試時探(tan)(tan)針經常性扎歪，然后需求人員重新(xin)進行探(tan)(tan)針調整(zheng)，糜費了大(da)量的(de)時間和人工(gong)本(ben)錢；

　　3.卡PIN：同樣由于(yu)由多構造組合而成，這個在pogopin身(shen)上是防止不了的問題(ti)；

　　4.極易斷針(zhen)：隨著pitch的(de)減少，pogo的(de)針(zhen)徑也越(yue)來越(yue)小，使得探針(zhen)的(de)斷針(zhen)風險(xian)逐步增加；

　　5.運(yun)(yun)用壽命(ming)(ming)(ming)很短：探針(zhen)的運(yun)(yun)用壽命(ming)(ming)(ming)均在30000次(ci)以下，并容易(yi)磨損，運(yun)(yun)用次(ci)數到一定的壽命(ming)(ming)(ming)后易(yi)招致接觸不良、誤測等現象；

　　以(yi)上(shang)狀(zhuang)況相對(dui)(dui)呈(cheng)現率(lv)較高(gao)，針對(dui)(dui)以(yi)上(shang)的狀(zhuang)況，自(zi)然導致企業本(ben)錢的增加，測試穩定性差，良品率(lv)低等問題(ti)。

　　針對以上運用(yong)pogo測試(shi)BTB母座connector，下面簡單引見幾個方面：

　　1.彈(dan)片(pian)(pian)微針模組有一(yi)體成(cheng)型，后(hou)期加硬(ying)鍍金處置，接(jie)(jie)觸外形(xing)（可定制化）很容(rong)易依(yi)照(zhao)客戶(hu)請求制造；彈(dan)片(pian)(pian)為一(yi)體化構(gou)造，減少了接(jie)(jie)觸點，防止(zhi)產生接(jie)(jie)觸不穩定、阻抗分歧(qi)性低等問題；

　　2.在測試母座(zuo)時(shi)，彈片頭部(bu)插入連(lian)(lian)接器(qi)內端子，使其產生一定的張(zhang)開量(liang)，這樣能夠保障彈片接觸(chu)面與(yu)BTB連(lian)(lian)接器(qi)端子兩(liang)面不(bu)斷堅持接觸(chu)狀態；測試公座(zuo)時(shi)，鋸齒(chi)型彈片大面積充沛和連(lian)(lian)接器(qi)接觸(chu)點接觸(chu)，保障測試穩定；

　　3.電(dian)(dian)傳播導于同(tong)一資料體內(nei)，電(dian)(dian)阻恒定，簡(jian)直沒有電(dian)(dian)流衰(shuai)減(jian)，具有更好的銜接功(gong)用，額(e)定電(dian)(dian)流為(wei)3A；

　　4.由于一體(ti)成(cheng)型，完整不會(hui)呈現卡pin現象，并且運用(yong)壽命能到(dao)達30萬次以上；

　　5.測試母(mu)座時，定(ding)制的斜口性彈(dan)(dan)片(pian)(pian)的頭部(bu)插入BTB連(lian)接(jie)器內彈(dan)(dan)片(pian)(pian)啟(qi)齒(chi)之間，對BTB連(lian)接(jie)器彈(dan)(dan)片(pian)(pian)產生一(yi)定(ding)的張開(kai)量，微針模組(zu)彈(dan)(dan)片(pian)(pian)接(jie)觸(chu)(chu)面與BTB連(lian)接(jie)器彈(dan)(dan)片(pian)(pian)兩面不斷(duan)堅持(chi)接(jie)觸(chu)(chu)狀(zhuang)態，微針模組(zu)彈(dan)(dan)片(pian)(pian)頭型自清潔設計免(mian)維護保障長期穩定(ding)性；

　　6.一體式設計，準確度高，完整不會(hui)呈現(xian)扎歪(wai)的問(wen)題；

　　7.大(da)電(dian)流BTB彈片微針模組的測試良率能到達99.5%；

　　8.能更好的應對pitch≤0.2mm的范(fan)疇；

　　9.運用彈片微針模組(zu)（blade block）在同一模組(zu)，測試前和測試20次后(hou)，連(lian)接(jie)器上根本看不到任何扎痕(hen)；

　　針對(dui)(dui)市場上，企業運用pogopin一(yi)系列(lie)的問題，我們自主創新的大電流BTB彈片微針模(mo)組（blade block）的處理(li)計劃能更好(hao)的應對(dui)(dui)，協助企業儉省本(ben)錢。

　　相較于(yu)目(mu)前市場上的痛點(dian)，大電流(liu)彈(dan)片(pian)(pian)微針模組（blade block），一體成型的彈(dan)片(pian)(pian)根卡pin、銜接(jie)(jie)穩定性差、斷針，接(jie)(jie)觸(chu)外形(xing)可定制化防止了產生(sheng)接(jie)(jie)觸(chu)不穩定、阻抗分歧性低，能(neng)應對pitch≤0.2mm、測(ce)試效率高、穩定性高、能(neng)兼容小(xiao)pitch BTB公母座穩定且牢靠(kao)、能(neng)接(jie)(jie)受的頂點(dian)為50A大電流(liu)、運用壽命更長、快速出樣、訂貨周(zhou)期短(duan)等優點(dian)。