21世紀發展(zhan)的(de)理想(xiang)電(dian)源。鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)可廣(guang)泛應用(yong)于 3C 也(ye)被稱為手機、平板電(dian)腦、筆記本電(dian)腦、可穿戴(dai)設(she)備(bei)等領域(yu)，鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)具有能量密度高、電(dian)壓(ya)高、壽命(ming)長、無記憶效應等優點，3C鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)是(shi)容易(yi)因(yin)短(duan)路、過(guo)充(chong)等原因(yin)燒毀(hui)或(huo)爆(bao)炸，所(suo)以很(hen)危險(xian)3C鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)測試是(shi)鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)制造和(he)(he)組裝的(de)重要環節，是(shi)實現鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)性能和(he)(he)安全靠(kao)譜使用(yong)的(de)有力保障。3C鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)測試項目主要包括一致性、功能性、安全性、可靠(kao)性和(he)(he)工況模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是中文字幕一區日韓精品:pogopin探(tan)針模塊(kuai)。通過(guo)比(bi)較兩者的優缺點，我們可以更(geng)直觀地區分哪(na)一個更(geng)符合(he)要求(qiu)(qiu)3C鋰電(dian)池測試要求(qiu)(qiu)。

　　從目前的市場趨勢來(lai)看(kan)，3C電(dian)(dian)子產品內(nei)部(bu)空(kong)間集(ji)成度高，pitch不(bu)斷縮小，pogopin探針(zhen)模組在小pitch該領域(yu)適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩(wen)定(ding)性差。3C鋰電(dian)(dian)池測(ce)試對(dui)電(dian)(dian)流的需求很大，pogopin探針(zhen)模塊能承載的額定(ding)電(dian)(dian)流僅為1A，在傳輸過程中，電(dian)(dian)流會在不(bu)同位衰(shuai)減(jian)，導致連(lian)接不(bu)穩(wen)定(ding)。

　　通大電流彈片微針模組

　　通(tong)大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)彈片微針(zhen)(zhen)模(mo)組無(wu)論是面(mian)對小間距(ju)還(huan)是大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)，都有很(hen)好的(de)應對方法。在(zai)(zai)小pitch在(zai)(zai)該(gai)領域，大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)彈片微針(zhen)(zhen)模(mo)塊是可(ke)取的(de)pitch值(zhi)在(zai)(zai)0.15mm-0.4mm性(xing)(xing)能(neng)穩定(ding)可(ke)靠。面(mian)對大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)測試要求，大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)彈片微針(zhen)(zhen)模(mo)塊可(ke)通(tong)過的(de)額(e)定(ding)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)大(da)(da)到50A，在(zai)(zai)1-50A電(dian)(dian)(dian)阻恒定(ding)，幾乎(hu)沒有電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)衰減，具有良好的(de)連接功(gong)能(neng)，可(ke)以很(hen)大(da)(da)限(xian)度地保(bao)障3C鋰電(dian)(dian)(dian)池測試的(de)穩定(ding)性(xing)(xing)。

　　pogopin探針模組

　　就使(shi)用(yong)壽命(ming)而(er)言，pogopin探針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)塊的(de)(de)試驗壽命(ming)在于5w大(da)電(dian)(dian)流彈(dan)片(pian)(pian)微針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)組(zu)的(de)(de)試驗壽命(ming)約為20w以上，比較pogopin探針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)塊整整多了四倍!況且pogo pin探針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)塊為多組(zu)件結構，生產(chan)工藝(yi)復雜，生產(chan)難度(du)高(gao)，交貨期長;大(da)電(dian)(dian)流彈(dan)片(pian)(pian)微針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)組(zu)是一種集成(cheng)彈(dan)片(pian)(pian)結構，輕、扁(bian)平，可(ke)根(gen)據客戶要(yao)求定制(zhi)，生產(chan)難度(du)低，交貨期短。相比之(zhi)下，通大(da)電(dian)(dian)流彈(dan)片(pian)(pian)微針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)組(zu)的(de)(de)成(cheng)本性能并不(bu)太高(gao)!

　　對(dui)比母(mu)座測試良率，pogopin針(zhen)(zhen)對(dui)探針(zhen)(zhen)模(mo)塊BTB連接器母(mu)座幾乎無(wu)法實現，穩定(ding)(ding)性極差。大(da)部分(fen)采用觸(chu)摸方(fang)(fang)案對(dui)應，母(mu)座測試良率不到80%;母(mu)座上有一種特(te)別的通(tong)大(da)電流彈片(pian)微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)組對(dui)應方(fang)(fang)法。將斜口型(也稱(cheng)尖頭型)彈片(pian)頭插(cha)入(ru)連接器內端子，以(yi)保(bao)持一定(ding)(ding)的開度，從而保(bao)障彈片(pian)的接觸(chu)面和接觸(chu)面BTB連接器端子兩側保(bao)持接觸(chu)狀(zhuang)態，使(shi)測試穩定(ding)(ding)，母(mu)座測試良率達到99.8%。

　　大電(dian)流彈片微針模組測試(shi)效率高，穩定性(xing)好。與同一產品測試(shi)前后(hou)相比(bi)，連接(jie)器(qi)基(ji)本(ben)上看不到刺痕，不會對產品造成任何損壞pogo pin電(dian)池測試(shi)模塊更值得(de)選擇和信賴。